軟X線顕微光電子分光によるCa<sub>2</sub>RuO<sub>4</sub>の電場印加下電子状態観測
書誌事項
- タイトル別名
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- Observation of electronic structure under electric-field by soft x-ray photoemission microscopy
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 73.2 (0), 1535-1535, 2018
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390845702306043392
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- NII論文ID
- 130007735282
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles