ワイドギャップ半導体ZnOにおけるミュオン測定で明らかにする不純物水素サイトと電子状態

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タイトル別名
  • Impurity hydrogen site and electronic state in wide-gap semiconductor ZnO as investigated by muon spectroscopy

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390845713018482432
  • NII論文ID
    130007507847
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.72.2.0_2342
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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