偽造ICチップの脅威と対策 -バウンダリスキャンによる真贋判定とトレーサビリティ-
書誌事項
- タイトル別名
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- Threats and countermeasures for the counterfeit IC - Authentication and traceability using Boundary-Scan -
収録刊行物
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- エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
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エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集 32 (0), 18-20, 2018
一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390845713072652032
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- NII論文ID
- 130007627568
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
