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- 荒河 一渡
- 大阪大学超高圧電子顕微鏡センター
書誌事項
- タイトル別名
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- Observation of Microstructures by Diffraction Contrast Technique
- カイセツ コントラストホウ ニ ヨル ビサイ コウゾウ ノ カンサツ
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抄録
<p>TEM回折コントラスト法は，いわゆる高分解能TEM/STEMが適用できないような比較的厚い試料における微細構造の観察のみならず，比較的低倍率で試料全体の特徴を掴むためにも極めて有効な手法である．本稿では，TEM回折コントラスト法の結像原理と応用例について，格子欠陥を題材にその概要を述べる．</p>
収録刊行物
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- 顕微鏡
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顕微鏡 46 (4), 258-265, 2011-12-30
公益社団法人 日本顕微鏡学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390846609786127872
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- NII論文ID
- 10030268191
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- NII書誌ID
- AA11917781
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- ISSN
- 24342386
- 13490958
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- NDL書誌ID
- 023470162
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可