超解像顕微鏡技術（WLI／SIM）を用いた微細3D形状測定

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1390848250126119680

• NII論文ID

  130007869387

• NII書誌ID

  AN1003250X

• DOI

  10.2493/jjspe.86.520

• ISSN

  1882675X

  09120289

• NDL書誌ID

  030561606

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/030561606

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I030561606

  https://www.jstage.jst.go.jp/article/jjspe/86/7/86_520/_pdf

• 本文言語コード

  ja

• データソース種別

  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles