X線CT値の解析的微分によるX線CT画像の高画質エッジ強調

DOI
  • 太田 智也
    首都大東京　システムデザイン学部　システムデザイン学科
  • 長井 超慧
    首都大東京　システムデザイン学部　システムデザイン学科
  • 大竹 豊
    東京大　工学系研究科　人工物工学研究センター
  • 紋川 亮
    都産技研　事業化支援本部技術開発支援部3Dものづくりセクター
  • 三浦 由佳
    都産技研　事業化支援本部技術開発支援部3Dものづくりセクター
  • 月精 智子
    都産技研　開発本部開発第二部バイオ応用技術グループ

書誌事項

タイトル別名
  • High-quality edge enhancement of X-ray CT images by analytical differentiation of X-ray CT values

説明

<p>Ｘ線ＣＴスキャンで得られたＣＴ画像は、輝度値が連続的に変化し、物体と背景の境界点を一意に決定することが難しい。また、低画質の原因となるノイズなどが存在する。そのため、物体のエッジを高画質で強調する方法が求められる。そこで、Ｘ線の投影値の解析的微分値を用いて、エッジ強調することを提案する。得られたエッジ強調画像を画質評価した結果、従来のエッジ強調フィルタよりも高画質なＣＴ画像が得られたことを示す。</p>

収録刊行物

キーワード

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390848647554963200
  • NII論文ID
    130007896480
  • DOI
    10.11522/pscjspe.2020s.0_208
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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