軟X線角度分解光電子分光法によるEuCu<sub>2</sub>Ge<sub>2</sub>とEuCu<sub>2</sub>Si<sub>2</sub>の電子状態の研究
書誌事項
- タイトル別名
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- Electronic states of EuCu<sub>2</sub>Ge<sub>2</sub> and EuCu<sub>2</sub>Si<sub>2</sub> studied by soft x-ray angle-resolved photoemission spectroscopy
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 74.1 (0), 2278-2278, 2019
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390853879739310336
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- NII論文ID
- 130008147274
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles