軟X線角度分解光電子分光法によるEuCu<sub>2</sub>Ge<sub>2</sub>とEuCu<sub>2</sub>Si<sub>2</sub>の電子状態の研究

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タイトル別名
  • Electronic states of EuCu<sub>2</sub>Ge<sub>2</sub> and EuCu<sub>2</sub>Si<sub>2</sub> studied by soft x-ray angle-resolved photoemission spectroscopy

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390853879739310336
  • NII論文ID
    130008147274
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.74.1.0_2278
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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