短時間交互加工型プラズマCMP装置の開発とSiC・GaN基板に対する加工特性の評価

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タイトル別名
  • Development of the short-time alternation processing plasma fusion CMP equipment and evaluation of processing characteristics to GaN and SiC substrates

抄録

<p>難加工材料である次世代半導体SiC・GaN基板に対して化学機械研磨(CMP)の高効率化のためのプラズマCMP加工を検討した。プラズマ照射とCMPの短時間加工交互基礎型装置を開発し、GaNおよびSiC基板に対しHeプラズマCMPを行った。通常CMP加工効率と比較して約5倍の加工効率を得られた。HeからArに変更した場合でも同程度の加工効率向上を確認した。</p>

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390860255283254784
  • DOI
    10.11522/pscjspe.2023s.0_799
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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