硬X線光電子分光による機能性クラスター薄膜の化学結合状態解析

DOI
  • 常見 英加
    (独)科学技術振興機構 戦略的創造研究推進事業 慶應義塾大学理工学部
  • 辻 享志
    (独)科学技術振興機構 戦略的創造研究推進事業 慶應義塾大学理工学部
  • 渡辺 義夫
    (独)科学技術振興機構 戦略的創造研究推進事業 慶應義塾大学理工学部
  • 陰地 宏
    (公財)高輝度光科学研究センター
  • 崔 藝涛
    (公財)高輝度光科学研究センター
  • 孫 珍永
    (公財)高輝度光科学研究センター
  • 渋田 昌弘
    (独)科学技術振興機構 戦略的創造研究推進事業 慶應義塾基礎科学・基盤工学インスティテュート
  • 江口 豊明
    (独)科学技術振興機構 戦略的創造研究推進事業 慶應義塾大学理工学部
  • 中嶋 敦
    (独)科学技術振興機構 戦略的創造研究推進事業 慶應義塾大学理工学部 慶應義塾基礎科学・基盤工学インスティテュート

書誌事項

タイトル別名
  • Analysis on Chemical Bondings for Functional Nanocluster Thin Films with Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy

説明

光学応答や磁気特性から注目される有機金属ユウロピウム(Eu)サンドイッチクラスターに対して、銀(Ag)電極薄膜下に埋もれたクラスターの化学結合状態を観測することを目的として、8 keVの励起X線エネルギーによる硬X線光電子分光を行った。Agの内殻準位は観測されたものの、Euの内殻準位を観測できなかった。このAg膜厚(20 nm)において、Ag電極薄膜下のEuサンドイッチクラスター由来の光電子信号は得られるはずであることから、X線照射下において酸化数や配位環境の異なる中間生成物が発生してしまい十分な積算とならなかったことがEu由来の信号をバックグラウンドに埋もれさせた要因であると考えられる。

収録刊行物

キーワード

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1391131406306005504
  • NII論文ID
    130007969344
  • DOI
    10.18957/rr.4.2.154
  • ISSN
    21876886
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

問題の指摘

ページトップへ