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- 塩島 謙次
- 福井大学学術研究院工学系部門電気・電子工学分野
書誌事項
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- Perspective of Semiconductor Technologies Contributed to the IoT Society
- IoT社会の発展を支える半導体技術の新展開(3)界面顕微光応答法によるワイドバンドギャップ材料・電極界面の2次元評価
- IoT シャカイ ノ ハッテン オ ササエル ハンドウタイ ギジュツ ノ シン テンカイ(3)カイメンケンビコウ オウトウホウ ニ ヨル ワイドバンドギャップ ザイリョウ ・ デンキョク カイメン ノ 2ジゲン ヒョウカ
- III: Two-Dimensional Characterization of Wide-Bandgap Materials and Contact Interfaces by Using Scanning Internal Photoemission Microscopy
- 3.界面顕微光応答法によるワイドバンドギャップ材料・電極界面の2次元評価
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収録刊行物
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- 材料
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材料 69 (11), 837-842, 2020-11-15
公益社団法人 日本材料学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1391412326418416896
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- NII論文ID
- 130007941338
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- NII書誌ID
- AN00096175
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- ISSN
- 18807488
- 05145163
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- NDL書誌ID
- 030777871
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN