化合物のXPSにおける多原子共鳴
書誌事項
- タイトル別名
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- Multi-atom resonance in X-ray photoelectron spectroscopy for compounds
抄録
<p>Si化合物のX線光電子分光法測定における多原子共鳴について検討した。Si3N4とセルロース粉末の混合物ペレットにX線を照射すると、X線のエネルギーがSi 1s→3p*共鳴領域のとき、N 1s光電子強度が減少したが、O 1s光電子強度は変化しなかった。このことから多原子共鳴による光電子強度の減少は、共鳴励起する元素に直接結合した原子のみで起こることがわかった。</p>
収録刊行物
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- 日本表面真空学会学術講演会要旨集
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日本表面真空学会学術講演会要旨集 2020 (0), 60-, 2020
公益社団法人 日本表面真空学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1391975831222333184
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- NII論文ID
- 130007959462
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- ISSN
- 24348589
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可