外部電圧印加に伴うキャリア注入による極薄SOI膜のゼーベック係数変化

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タイトル別名
  • ガイブ デンアツ インカ ニ トモナウ キャリア チュウニュウ ニ ヨル ゴクウス SOIマク ノ ゼーベック ケイスウ ヘンカ
  • Variation of Seebeck coefficient of Si-on-insulator layer induced by bias-injected carriers
  • 電子デバイス
  • デンシ デバイス

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