GaAs(001)Ga安定化面に形成したSi超薄膜のSTMによる評価
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- GaAs 001 Ga アンテイカメン ニ ケイセイ シタ Si チョウハクマク ノ STM ニ ヨル ヒョウカ
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 101 (618), 7-12, 2002-01-29
東京 : 電子情報通信学会
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009407980893440
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- NII Article ID
- 110003310980
- 110003201534
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
