BAST: BIST Aided Scan Test--テストコスト削減のための新しい手法
Bibliographic Information
- Other Title
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- BAST BIST Aided Scan Test テストコスト サクゲン ノ タメ ノ アタラシイ シュホウ
- LSIのテスト・診断技術論文小特集
- LSI ノ テスト シンダン ギジュツ ロンブン ショウトクシュウ
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Journal
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- 電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム. 1, 情報処理 = The IEICE transactions on information and systems. Pt. 1 / 電子情報通信学会 編
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電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム. 1, 情報処理 = The IEICE transactions on information and systems. Pt. 1 / 電子情報通信学会 編 88 (6), 1012-1020, 2005-06
東京 : 電子情報通信学会情報・システムソサイエティ
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009407982805760
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- NII Article ID
- 110003203374
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- NII Book ID
- AN10071319
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- ISSN
- 09151915
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- NDL BIB ID
- 7384778
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles