Si高指数面酸化過程のリアルタイム光電子分光による評価
Bibliographic Information
- Other Title
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- Si コウシスウメン サンカ カテイ ノ リアルタイム コウデンシ ブンコウ ニ ヨル ヒョウカ
- Characterization of initial oxidation process on high-index silicon surfaces by real-time photoemission spectroscopy
- シリコン材料・デバイス
- シリコン ザイリョウ デバイス
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111 (114), 23-27, 2011-07-04
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009408096680320
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- NII Article ID
- 110008800850
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 11200033
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles