プリント基板の電気検査におけるプローブピン位置補正の遺伝的アルゴリズムを用いた最適化
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- プリント キバン ノ デンキ ケンサ ニ オケル プローブピン イチ ホセイ ノ イデンテキ アルゴリズム オ モチイタ サイテキ カ
- Pin prove position optimization through genetic algorithm in printed circuit board electrical inspections
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (418), 133-136, 2013-01
東京 : 電子情報通信学会
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009408125030272
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- NII Article ID
- 110009727454
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 024263019
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
