In Situ 赤外分光測定による蒸着重合薄膜の構造解析に関する研究

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1520009409041546368

• NII論文ID

  110004750797

  110004751033

  110004750905

• NII書誌ID

  AA1123312X

• ISSN

  09135685

• NDL書誌ID

  7977277

  7977180

  7976961

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/7977277

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I7977277

  http://id.ndl.go.jp/bib/7977180

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I7977180

  http://id.ndl.go.jp/bib/7976961

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I7976961

• 本文言語コード

  ja

• NDL 雑誌分類

  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)

• データソース種別

  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN