白色干渉計を用いた光学的3Dナノ人工物メトリクス
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- ハクショク カンショウケイ オ モチイタ コウガクテキ 3Dナノ ジンコウブツ メトリクス
- Optical 3D Nano Artifact-metrics using White Light Interferometry
- ハードウェアセキュリティ
- ハードウェア セキュリティ
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Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 118 (3), 11-16, 2018-04-13
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009409118483200
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- NII Article ID
- 40021538503
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 028975966
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles