招待講演 Metrology of microscopic properties of graphene on SiC
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- Other Title
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- ショウタイ コウエン Metrology of microscopic properties of graphene on SiC
- Silicon devices and materials
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 109 (98), 47-52, 2009-06
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009409275212800
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- NII Article ID
- 110007338353
- 110007360191
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- Text Lang
- en
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
