Gate Metal Dependent Reverse Leakage Mechanisms in AIGaN/GaN Schottky Diode

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1520009409321393792

• NII論文ID

  40019742507

• NII書誌ID

  AA12295836

• ISSN

  00214922

• NDL書誌ID

  024758925

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/024758925

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I024758925

• 本文言語コード

  en

• NDL 雑誌分類

  • ZM35(科学技術--物理学)

• データソース種別

  • NDL
  • CiNii Articles