〔日本電子顕微鏡学会〕先端材料解析研究部会・成果報告 イオンミリング技法とウルトラミクロトーム(超薄切片)技法のラウンドロビンテスト--工業材料における電顕観察用薄膜作製技術の標準化
書誌事項
- タイトル別名
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- ニホン デンシ ケンビキョウ ガッカイ センタン ザイリョウ カイセキ ケンキ
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収録刊行物
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- 電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編
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電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編 32 (1), 52-55, 1997-03
東京 : 日本顕微鏡学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520009410269761024
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- NII論文ID
- 10002641233
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- NII書誌ID
- AN00153086
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- ISSN
- 04170326
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- NDL書誌ID
- 4193665
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles