Si(100)表面の低速電子線回折法による構造解析
Bibliographic Information
- Other Title
-
- Si 100 ヒョウメン ノ テイソク デンシセン カイセツホウ ニ ヨル コ
Search this article
Description
記事分類: 物理学--分子・物性
Journal
-
- 電気通信大学紀要 / 電気通信大学 編
-
電気通信大学紀要 / 電気通信大学 編 6 (2), p171-176, 1993-12
調布 : 電気通信大学
- Tweet
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1520009410438531072
-
- NII Article ID
- 40004737938
-
- NII Book ID
- AN10016842
-
- ISSN
- 09150935
-
- NDL BIB ID
- 3860662
-
- Text Lang
- ja
-
- NDL Source Classification
-
- ZV1(一般学術誌--一般学術誌・大学紀要)
-
- Data Source
-
- NDL
- CiNii Articles
