Si(100)表面の低速電子線回折法による構造解析
書誌事項
- タイトル別名
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- Si 100 ヒョウメン ノ テイソク デンシセン カイセツホウ ニ ヨル コ
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説明
記事分類: 物理学--分子・物性
収録刊行物
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- 電気通信大学紀要 / 電気通信大学 編
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電気通信大学紀要 / 電気通信大学 編 6 (2), p171-176, 1993-12
調布 : 電気通信大学
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520009410438531072
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- NII論文ID
- 40004737938
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- NII書誌ID
- AN10016842
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- ISSN
- 09150935
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- NDL書誌ID
- 3860662
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZV1(一般学術誌--一般学術誌・大学紀要)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles
