無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法

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  • ムヘイロ カケンサセイ ニ モトズク テスト セイセイ ノ タメノ サイテキ スルーボク シュウゴウ コウセイホウ
  • An optimization of thru trees for test generation based on acyclical testability
  • VLSI設計技術
  • VLSI セッケイ ギジュツ

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