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無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法

Bibliographic Information

Other Title
  • ムヘイロ カケンサセイ ニ モトズク テスト セイセイ ノ タメノ サイテキ スルーボク シュウゴウ コウセイホウ
  • An optimization of thru trees for test generation based on acyclical testability
  • VLSI設計技術
  • VLSI セッケイ ギジュツ

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Details

  • CRID
    1520290882100537216
  • NII Article ID
    110006533581
    110006533957
  • NII Book ID
    AA1123312X
  • ISSN
    09135685
  • NDL BIB ID
    9290885
    9291344
  • Text Lang
    ja
  • NDL Source Classification
    • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • Data Source
    • NDL
    • CiNii Articles

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