書誌事項
- タイトル別名
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- ムヘイロ カケンサセイ ニ モトズク テスト セイセイ ノ タメノ サイテキ スルーボク シュウゴウ コウセイホウ
- An optimization of thru trees for test generation based on acyclical testability
- VLSI設計技術
- VLSI セッケイ ギジュツ
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107 (334), 13-18, 2007-11-20
東京 : 電子情報通信学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290882100537216
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- NII論文ID
- 110006533581
- 110006533957
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDLサーチ
- CiNii Articles
