マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測
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- マルコフ レンサ モデル ニ ヨル ハンドウタイ ソシ レッカ ・ ジュミョウ ヨソク
- Prediction of Performance Degradation and Lifetime for Semiconductor Devices Using Markov Chain Model
- 信頼性
- シンライセイ
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114 (314), 1-5, 2014-11-20
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520290882620678272
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- NII Article ID
- 110009962303
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 025981068
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles