論理IC実装時に発生する抵抗を伴うリード浮きに対する電流テスト能力評価

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  • ロンリ IC ジッソウジ ニ ハッセイスル テイコウ オ トモナウ リード ウキ ニ タイスル デンリュウ テスト ノウリョク ヒョウカ
  • Testability of supply current test method for resistive open lead detection

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