論理IC実装時に発生する抵抗を伴うリード浮きに対する電流テスト能力評価
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- ロンリ IC ジッソウジ ニ ハッセイスル テイコウ オ トモナウ リード ウキ ニ タイスル デンリュウ テスト ノウリョク ヒョウカ
- Testability of supply current test method for resistive open lead detection
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- マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
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マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集 17 195-198, 2007-09
東京 : エレクトロニクス実装学会
