Optical characterization and X-ray photoelectron spectroscopy of erbium-doped silicon suboxide infrared emitting at 1.5μm
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- Optical characterization and X ray photoelectron spectroscopy of erbium doped silicon suboxide infrared emitting at 1 5mm
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資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌
収録刊行物
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- Japanese journal of applied physics : JJAP
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Japanese journal of applied physics : JJAP 47 (12), 8871-8873, 2008-12
Tokyo : The Japan Society of Applied Physics