100mm径サファイア基板上に成長した高Al組成AlGaN/GaN HEMTのDC特性評価

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1520290883252091648

• NII論文ID

  110003179528

  110003175520

• NII書誌ID

  AA1123312X

• ISSN

  09135685

• NDL書誌ID

  6861263

  6862004

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/6861263

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6861263

  http://id.ndl.go.jp/bib/6862004

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6862004

• 本文言語コード

  ja

• NDL 雑誌分類

  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)

• データソース種別

  • NDLサーチ
  • CiNii Articles