ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--加振機構のモデリング(その4)
Bibliographic Information
- Other Title
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- ハンマリングカシンキコウ ニ ヨル デンキ セッテン ノ レッカ ゲンショウ カシンキコウ ノ モデリング ソノ 4
- Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism: modeling of the oscillating mechanism (4)
- 機構デバイス
- キコウ デバイス
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Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 109 (138), 1-6, 2009-07-17
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520290883678894336
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- NII Article ID
- 110007360508
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 10308507
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles