走査透過電子顕微鏡を用いた電子線回折法による局所構造解析
書誌事項
- タイトル別名
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- ソウサ トウカ デンシ ケンビキョウ オ モチイタ デンシセン カイセツホウ ニ ヨル キョクショ コウゾウ カイセキ
- Local Crystal Structure Analysis by Electron Diffraction Method Using Scanning Transmission Electron Microscopy
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収録刊行物
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- 研究所報告 / 大阪府立産業技術総合研究所 編
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研究所報告 / 大阪府立産業技術総合研究所 編 (30), 33-36, 2016-09
和泉 : 大阪府立産業技術総合研究所
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290883745439104
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- NII論文ID
- 40021012204
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- NII書誌ID
- AA11219479
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- ISSN
- 13433555
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- NDL書誌ID
- 027755731
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM5(科学技術--科学技術一般--工学・工業)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles
