GaNの表面処理による表面フェルミ準位変化の推定
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- GaN ノ ヒョウメン ショリ ニ ヨル ヒョウメン フェルミ ジュンイ ヘンカ ノ スイテイ
- Estimation of Surface Fermi level differences in surface-modified GaN crystals
- 電子デバイス
- デンシ デバイス
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Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (327), 13-15, 2012-11
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520290884178409088
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- NII Article ID
- 110009641889
- 110009642306
- 110009641878
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
