STMによる半導体表面の観察と探針評価
書誌事項
- タイトル別名
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- STM ニ ヨル ハンドウタイ ヒョウメン ノ カンサツ ト タンシン ヒョウ
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説明
記事分類: 物理学--分子・物性--半導体 ; 電気工学--電子工学--電子応用機器--電子顕微鏡
収録刊行物
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- 応用物理
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応用物理 57 (12), p1907-1911, 1988-12
東京 : 応用物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290885225853952
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- NII論文ID
- 40000279742
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- NII書誌ID
- AN00026679
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- ISSN
- 03698009
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- NDL書誌ID
- 3203421
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM17(科学技術--科学技術一般--力学・応用力学)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles
