特集解説 原子間力顕微鏡による原子レベルの物性評価と計測
Bibliographic Information
- Other Title
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- トクシュウ カイセツ ゲンシカンリョク ケンビキョウ ニ ヨル ゲンシ レベル ノ ブッセイ ヒョウカ ト ケイソク
- 特集:電子材料ナノメータ領域評価技術
- トクシュウ デンシ ザイリョウ ナノメータ リョウイキ ヒョウカ ギジュツ
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- 電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌 = IEEJ transactions on electronics, information and systems
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電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌 = IEEJ transactions on electronics, information and systems 119 (10), 1109-1112, 1999-10
東京 : 電気学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520290885248012928
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- NII Article ID
- 10004630425
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- NII Book ID
- AN10065950
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- ISSN
- 03854221
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- NDL BIB ID
- 4866247
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN31(科学技術--電気工学・電気機械工業)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
