X線回折を用いた簡便な転位解析法
書誌事項
- タイトル別名
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- Xセン カイセツ オ モチイタ カンベン ナ テンイ カイセキホウ
- Easy Dislocation Analysis by Means of X-Ray Diffraction
- 特集 溶射皮膜の特性を知るための測定・観察・解析手法
- トクシュウ ヨウシャ ヒマク ノ トクセイ オ シル タメ ノ ソクテイ ・ カンサツ ・ カイセキ シュホウ
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収録刊行物
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- 溶射 : 日本溶射学会誌
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溶射 : 日本溶射学会誌 61 (3), 129-135, 2024-07
東大阪 : 日本溶射学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520301330609511552
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- NII書誌ID
- AN10502250
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- ISSN
- 09166076
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- NDL書誌ID
- 033661001
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
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- データソース種別
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- NDLサーチ