DLTS法によるSiCショットキダイオードの電子トラップの評価
書誌事項
- タイトル別名
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- DLTSホウ ニ ヨル SiC ショットキダイオード ノ デンシ トラップ ノ ヒョウカ
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収録刊行物
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- 愛知工業大学研究報告. B, 専門関係論文集
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愛知工業大学研究報告. B, 専門関係論文集 (40B), 19-24, 2005-03
豊田 : 愛知工業大学
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520572357109756928
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- NII論文ID
- 110004616017
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- NII書誌ID
- AN00007801
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- ISSN
- 03870812
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- NDL書誌ID
- 7804901
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM2(科学技術--科学技術一般--大学・研究所・学会紀要)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles