角度分解光電子分光法によるゲート絶縁膜/シリコン基板界面に形成される構造遷移層に関する研究

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  • カクド ブンカイ コウデンシ ブンコウホウ ニ ヨル ゲート ゼツエンマク シリコン キバン カイメン ニ ケイセイサレル コウゾウ センイソウ ニ カンスル ケンキュウ
  • Study on compositional transition layers at gate dielectrics/Si interface by using angle-resolved x-ray photoelectron spectroscopy
  • シリコン材料・デバイス
  • シリコン ザイリョウ デバイス

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