差分光再構成手法に対する不良耐性
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- サ ブンコウ サイコウセイ シュホウ ニ タイスル フリョウ タイセイ
- Defect tolerance for a differential reconfiguration strategy
- 画像工学
- ガゾウ コウガク
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 109 (469), 77-81, 2010-03-15
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520572357532844928
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- NII Article ID
- 110008000142
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 10649992
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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