MNOS-FETのSiO2膜中電流キャリアに関する実験的検討
書誌事項
- タイトル別名
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- MNOS FET ノ SiO2 マク チュウ デンリュウ キャリア ニ カンス
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抄録
資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト
収録刊行物
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- 東京大学工学部総合試験所年報
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東京大学工学部総合試験所年報 (35), p135-141, 1976-09
東京 : 東京大学工学部総合試験所
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520572357706142848
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- NII論文ID
- 40002597459
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- NII書誌ID
- AN0013422X
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- ISSN
- 03713067
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- NDL書誌ID
- 1910130
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM2(科学技術--科学技術一般--大学・研究所・学会紀要)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles