カーボンナノチューブ探針を用いた半導体表面のAFM・KFM測定

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1520572357744108288

• NII論文ID

  110003201533

  110003310979

• NII書誌ID

  AA1123312X

• ISSN

  09135685

• NDL書誌ID

  6073257

  6073595

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/6073257

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6073257

  http://id.ndl.go.jp/bib/6073595

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6073595

• 本文言語コード

  ja

• NDL 雑誌分類

  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)

• データソース種別

  • NDL
  • CiNii Articles