Inteface Trap Generation Induced by Charge Pumping Current under Dynamic Oxide Field Stresses
Bibliographic Information
- Other Title
-
- ダイナミック酸化膜電界ストレス下でのチャージポンピング電流に起因する界面トラップ形成
Search this article
Journal
-
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
-
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 105 (109), 17-22, 2005-06-10
東京 : 電子情報通信学会
- Tweet
Keywords
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1520572358715231872
-
- NII Article ID
- 10016574299
-
- NII Book ID
- AA1123312X
-
- ISSN
- 09135685
-
- NDL BIB ID
- 7367750
-
- Text Lang
- en
-
- NDL Source Classification
-
- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
-
- Data Source
-
- NDL
- CiNii Articles