高耐圧SiC-JFETの交流特性測定--高電圧バイアスおよびゲート電圧印加を可能とする測定回路

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1520572359288680576

• NII論文ID

  110004851740

  10018646708

  110004851461

• NII書誌ID

  AA1123312X

• ISSN

  09135685

• NDL書誌ID

  8540049

  8539792

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/8540049

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8540049

  http://id.ndl.go.jp/bib/8539792

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8539792

• 本文言語コード

  ja

• NDL 雑誌分類

  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)

• データソース種別

  • NDL
  • CiNii Articles