交流電界印加時の電流テストによるCMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧

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タイトル別名
  • コウリュウ デンカイ インカジ ノ デンリュウ テスト ニ ヨル CMOS LSI ノ リード ウキ ケンシュツ ノ タメノ インカ コウリュウ デンアツ
  • Applied AC voltage for detecting open leads of CMOS LSI by monitoring supply current under AC electric field

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