交流電界印加時の電流テストによるCMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧
Bibliographic Information
- Other Title
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- コウリュウ デンカイ インカジ ノ デンリュウ テスト ニ ヨル CMOS LSI ノ リード ウキ ケンシュツ ノ タメノ インカ コウリュウ デンアツ
- Applied AC voltage for detecting open leads of CMOS LSI by monitoring supply current under AC electric field
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Journal
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- エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging
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エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging 10 (3), 219-228, 2007-05
東京 : エレクトロニクス実装学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520572359685232384
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- NII Article ID
- 110006249330
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- NII Book ID
- AA11231565
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- ISSN
- 13439677
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- NDL BIB ID
- 8814737
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN
