Automatic control of sliver thickness by high-frequency capacitance measuring principle-1-Configuration of the control system and characteristics of the detecting element
書誌事項
- タイトル別名
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- Automatic control of sliver thickness by high-frequency capacitance measuring principle 1 Configuration of the control system and characteristics of the detecting element
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収録刊行物
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- 静岡大学工学部研究報告 / 静岡大学工学部 編
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静岡大学工学部研究報告 / 静岡大学工学部 編 (16), 13-25, 1966-03
浜松 : 静岡大学工学部
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520572360113625600
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- NII論文ID
- 110007630527
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- NII書誌ID
- AN00103146
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- ISSN
- 05830915
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- NDL書誌ID
- 8233718
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM2(科学技術--科学技術一般--大学・研究所・学会紀要)
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- データソース種別
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- NDLサーチ
- CiNii Articles