招待論文 SOI基板材料の品質評価と技術課題
Bibliographic Information
- Other Title
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- ショウタイ ロンブン SOI キバン ザイリョウ ノ ヒンシツ ヒョウカ ト ギジュツ カダイ
- MOSデバイス,SOI基板/デバイス技術
- MOS デバイス SOI キバン デバイス ギジュツ
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Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 99 (681), 29-36, 2000-03-13
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520572360220346112
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- NII Article ID
- 110003310526
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 5358715
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles