180nmCMOSプロセスを用いたテラヘルツ検出器の設計と評価
Bibliographic Information
- Other Title
-
- 180nmCMOS プロセス オ モチイタ テラヘルツ ケンシュツキ ノ セッケイ ト ヒョウカ
- Design and fabrication of terahertz detectors based on 180 nm CMOS process technology
- 電子デバイス
- デンシ デバイス
Search this article
Journal
-
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
-
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 116 (375), 17-22, 2016-12
東京 : 電子情報通信学会
- Tweet
Keywords
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1520853832367695744
-
- NII Article ID
- 40021060839
-
- NII Book ID
- AA1123312X
-
- ISSN
- 09135685
-
- NDL BIB ID
- 027844190
-
- Text Lang
- ja
-
- NDL Source Classification
-
- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
-
- Data Source
-
- NDL
- CiNii Articles