赤外線サーモグラフィによる表面近傍の微小空洞欠陥の検出
書誌事項
- タイトル別名
-
- セキガイセン サーモグラフィ ニ ヨル ヒョウメン キンボウ ノ ビショウ クウドウ ケッカン ノ ケンシュツ
この論文をさがす
収録刊行物
-
- 材料試験技術 = Journal of Material Testing Research Association of Japan
-
材料試験技術 = Journal of Material Testing Research Association of Japan 50 (4), 163-169, 2005-10
東京 : 日本材料試験技術協会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1520853832896548352
-
- NII論文ID
- 40007009107
-
- NII書誌ID
- AN0033237X
-
- ISSN
- 02852470
-
- NDL書誌ID
- 7713370
-
- 本文言語コード
- ja
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
-
- データソース種別
-
- NDL
- CiNii Articles