コンタクトエピタキシャル法による酸化物結晶薄膜の方位制御に関する検討
書誌事項
- タイトル別名
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- コンタクトエピタキシャルホウ ニ ヨル サンカブツ ケッショウ ハクマク ノ ホウイ セイギョ ニ カンスル ケントウ
- Study of a Control Oxide Thin Film Orientation by Crystal Contact Epitaxy
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収録刊行物
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- 沼津工業高等専門学校研究報告 = National Institute of Technology Numazu College research annual
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沼津工業高等専門学校研究報告 = National Institute of Technology Numazu College research annual (49), 21-24, 2015-01
沼津 : 沼津工業高等専門学校
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520853833299633920
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- NII論文ID
- 110009889991
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- NII書誌ID
- AN00199473
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- ISSN
- 02862794
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- NDL書誌ID
- 026235857
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZV1(一般学術誌--一般学術誌・大学紀要)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles